關(guān) 于低 壓 開(kāi) 關(guān) 柜 質(zhì) 量 檢 驗(yàn)?（六）

關(guān) 于低 壓 開(kāi) 關(guān) 柜 質(zhì) 量 檢 驗(yàn)（六）

甘肅低壓開(kāi)關(guān)柜質(zhì)量檢驗(yàn)

第四章 低壓開(kāi)關(guān)柜介電強(qiáng)度和絕緣電阻測(cè)試

第一節(jié) 絕緣電阻測(cè)試

這項(xiàng)測(cè)試是檢查開(kāi)關(guān)柜的絕緣性能是否符合GB 7251.1-2005 的有關(guān)規(guī)定，是為了確保操作人員的安全、柜子和柜內(nèi)有關(guān)電器元件的***重要技術(shù)指標(biāo)之一。

測(cè)量絕緣電阻要用兆歐表。當(dāng)被測(cè)開(kāi)關(guān)柜額定絕緣電壓在60V～660V之間時(shí)，要用500V的兆歐表。如果被測(cè)開(kāi)關(guān)柜的額定絕緣電壓在660V至1000V之間時(shí)，應(yīng)該用1000V的兆歐表。測(cè)量的部位是：

（1）開(kāi)關(guān)柜的主開(kāi)關(guān)在斷開(kāi)位置時(shí)，同極的進(jìn)線和出線之間；

（2）主開(kāi)關(guān)閉合時(shí)不同極的帶電部件之間（例如.、"相的主觸頭或裸母線之間等）、主電路和控制電路之間；

（3）各帶電部件與金屬框架之間。

測(cè)試時(shí)間為1min。

測(cè)量得到的絕緣電阻數(shù)值是否符合要求，與開(kāi)關(guān)柜中每條電路對(duì)地的標(biāo)稱(chēng)電壓有關(guān)，要求是不小于1KΩV。例如，每條電路對(duì)地的標(biāo)稱(chēng)電壓為380V，則絕緣電阻不能小于380KΩ，即0.38MΩ（一般要求不小于0.5MΩ）。標(biāo)稱(chēng)電壓越高，要求絕緣電阻越大。如果開(kāi)關(guān)柜中用的主開(kāi)關(guān)以及有關(guān)的絕緣材料良好，安裝中也未出現(xiàn)問(wèn)題，這個(gè)指標(biāo)是不難達(dá)到的。

第二節(jié)   介電強(qiáng)度試驗(yàn)

如果測(cè)量了絕緣電阻，就不必再作介電強(qiáng)度試驗(yàn)，反之亦然。

介電強(qiáng)度試驗(yàn)就是耐壓試驗(yàn)。試驗(yàn)應(yīng)把不能耐受試驗(yàn)電壓的器件（如電子設(shè)備、電容器等）以及某些消耗電流的器件（如線圈、測(cè)量?jī)x器）斷開(kāi)。

試驗(yàn)電壓應(yīng)施加在：（1）主電路帶電部件與地之間；（2）主電路各相（或極）之間；（3）主電路與同它不直接連接的輔助電路之間。

試驗(yàn)電壓值和開(kāi)關(guān)柜的額定絕緣電壓值有關(guān)。當(dāng)額定絕緣電壓在380V～660V之間時(shí)，試驗(yàn)電壓為2500V（有效值）。試驗(yàn)時(shí)間為1S。試驗(yàn)中如未發(fā)生絕緣擊穿、表面網(wǎng)絡(luò)或試驗(yàn)電壓突然下降，則認(rèn)為試驗(yàn)合格。

如果開(kāi)關(guān)柜的外殼或外部操作手柄用絕緣材料制成，也應(yīng)進(jìn)行耐壓試驗(yàn)。試驗(yàn)時(shí)應(yīng)在外殼的外面包覆一層能覆蓋所有的開(kāi)孔和接縫的金屬；用絕緣材料制造或覆蓋的手柄，試驗(yàn)時(shí)應(yīng)在手柄上裹纏金屬箔。施加電壓的部位應(yīng)在金屬箔與帶電部件及裸露的導(dǎo)電部件之間，試驗(yàn)電壓值也與開(kāi)關(guān)柜額定電壓U有關(guān)，當(dāng)U>60V時(shí)，試驗(yàn)電壓值為(2U+1000)×1.5，***2250V。試驗(yàn)時(shí)施加電壓應(yīng)從30%～50%的試驗(yàn)電壓開(kāi)始，以約5S的時(shí)間逐步升至規(guī)定值，然后維持1S，再逐漸降到零。試驗(yàn)中不應(yīng)有擊穿、閃絡(luò)現(xiàn)象。

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